GB/T 2423.3-2016恒溫恒濕試驗(yàn)箱

恒溫恒濕箱是一款可以模擬高溫、低溫、高溫低溫、低溫低濕、濕熱交變等不同環(huán)境的試驗(yàn)條件，使用于測試材料的耐熱、耐干、耐濕、耐寒性，以此確定產(chǎn)品的耐老化及耐特殊性的性能，該設(shè)備應(yīng)用廣泛，是很多行業(yè)產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)檢的基本檢測設(shè)備。

基本技術(shù)參數(shù)：

設(shè)備型號；KD-2P-150

溫度范圍：負(fù)40度到150度

濕度范圍：20%-98%

內(nèi)箱尺寸：40.50.40厘米，分別為寬高深

外箱尺寸：具體以實(shí)物為準(zhǔn)

升溫速率：每分鐘升溫2～3度

降溫速率：每分鐘降溫1～2度

濕度偏差：±3%RH

溫度均勻度：1℃

溫度波動度：±0.5℃

滿足標(biāo)準(zhǔn)及測試方法

1.GB/T 2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn) A：低溫

2.GB/T 2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn) B：高溫

3.GB/T 2423.3-2016(IEC60068-2-78:2012)環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn) Cab:恒定濕熱試驗(yàn)方法

4.GB/T 2424.5-2006(IEC60068-3-5:2001) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

5.GB/T 2424.6-2006(IEC60068-3-6:2001) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度 濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

6.GB/T 2424.7-2006(IEC60068-3-7:2001) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn) A 和 B(帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱的測量

7.GB/T 2423.22-2012(IEC60068-2-14:2009) 環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N：溫度變化

8.GJB 150.3A-2009 高溫試驗(yàn)方法

9.GJB 150.4A-2009 低溫試驗(yàn)方法

GB/T 2423.3-2016恒溫恒濕試驗(yàn)箱，●      驗(yàn)收之日起，在一年質(zhì)量保證期內(nèi)，除設(shè)備所使用的耗材外，本公司免費(fèi)維修(天災(zāi)、電力異常、人為使用不當(dāng)、保養(yǎng)不當(dāng)造成之損壞除外)，需方在遵守保管、使用和安裝規(guī)則的條件下，因試驗(yàn)箱制造質(zhì)量問題不能正常工作時(shí)，供方在得到通知后，按照服務(wù)承諾時(shí)間將派出維修人員進(jìn)行免費(fèi)維修；質(zhì)保期后設(shè)備出現(xiàn)問題，供方承諾及時(shí)給予解決，酌情收取維修費(fèi)及材料費(fèi),在具有該系統(tǒng)的升級條件下，終身無償為買方進(jìn)行軟件升級。