購(gòu)買(mǎi)了吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱的很多客戶(hù)會(huì)有許多技術(shù)上的疑問(wèn),今天統(tǒng)一解答
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)也叫溫度沖擊試驗(yàn)箱、高低溫沖擊試驗(yàn)箱。它可分為“兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱"和“三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱"也有人喜歡叫“兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱"和“三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱"等等,兩槽溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)為吊蘭樣品移動(dòng)式,有高溫槽和低溫槽兩個(gè)區(qū)域,是利用低溫及高溫蓄冷熱槽,依動(dòng)作需要將吊蘭快速移動(dòng)到冷、熱槽內(nèi),從而達(dá)到快速溫度沖擊效果。三槽高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)樣品不動(dòng)型,有高溫槽、低溫槽、常溫槽三個(gè)工作區(qū)域,通過(guò)閥門(mén)利用低溫及高溫蓄冷熱儲(chǔ)存槽,依動(dòng)作需要打開(kāi)調(diào)節(jié)閥,將儲(chǔ)存槽內(nèi)的冷熱溫度導(dǎo)入試驗(yàn)室內(nèi)從而達(dá)到快速溫度沖擊的效果。更多產(chǎn)品資訊請(qǐng)與東莞市科迪儀器有限公司聯(lián)系。
今天就以吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱為例,詳細(xì)為大家解答下使用中碰到的一些技術(shù)問(wèn)題,其實(shí),在平常的售后中,經(jīng)常碰到這么一個(gè)問(wèn)題,就是購(gòu)買(mǎi)了吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱的很多客戶(hù)會(huì)有許多技術(shù)上的疑問(wèn),那么小編今天在這里一一為您解答:
1、問(wèn):冷吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱位置的擺放怎么樣好?
答:應(yīng)將設(shè)備安裝在通風(fēng)陰涼的地方,地面要平整、四周均應(yīng)留出一定的空隙,以便通風(fēng)散熱,延長(zhǎng)試驗(yàn)箱使用壽命。
2、問(wèn):吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱經(jīng)常斷電有危害么?
答:有、設(shè)備切記頻繁開(kāi)機(jī)、因?yàn)殚_(kāi)、關(guān)機(jī)的瞬間、設(shè)備機(jī)器會(huì)承受大的運(yùn)轉(zhuǎn)負(fù)荷如此頻繁的操作會(huì)對(duì)設(shè)備造成損壞。
3、問(wèn):吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用時(shí)兩側(cè)微微發(fā)熱正常嗎?
答:正常。
4、問(wèn):新購(gòu)買(mǎi)的吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱怎么使用?
答:新購(gòu)買(mǎi)的設(shè)備進(jìn)到實(shí)驗(yàn)室后應(yīng)靜置2至6小時(shí)后再開(kāi)機(jī),以免油路故障。應(yīng)單獨(dú)接線(xiàn)。接通電源后,仔細(xì)聽(tīng)壓縮機(jī)啟動(dòng)和運(yùn)行時(shí)的聲音是否正常,是否有管路互相碰擊的聲音。如果噪音過(guò)大,檢查產(chǎn)品是否擺放平穩(wěn),各個(gè)管路是否接觸。
5、問(wèn):造成吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱積水的原因是什么?
答:1、頻繁開(kāi)啟設(shè)備的箱門(mén),大量熱空氣涌入試驗(yàn)箱形成熱冷對(duì)流。2、排水孔堵塞。
6、問(wèn):吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱密封圈怎么清洗?
答:門(mén)封條臟污易老化,會(huì)影響冷熱沖擊試驗(yàn)箱的密封性,增加耗電量。可以將漂白劑用10倍的水稀釋后用牙刷蘸濕清洗,然后用水將漂白劑沖去。
7、問(wèn):冷熱沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)部噪音大都有哪些原因?
答:1、放置位置未調(diào)整好。2、四腳未全部落地。3、壓縮機(jī)本身工作噪音大。4、其它部件固定松動(dòng)。5、環(huán)境共振。參考以上原因適當(dāng)調(diào)整冷熱沖擊試驗(yàn)箱,如果仍不能解決,建議找專(zhuān)業(yè)維修人員操作維修。
以上七點(diǎn)是客戶(hù)經(jīng)常會(huì)提問(wèn)到的問(wèn)題,今天小編在這里為大家做一個(gè)簡(jiǎn)單的回答,僅供大家參考。冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。